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●    30μV-1200V，1pA-100A 寬量程測試能力

●     測量精度高，全量程下可達0.03%

●     內置標準器件測試程序，直接調用測試簡便 

●     自動實時參數提取、 數據繪圖、分析函數

●     在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線

●     提供靈活的夾具定制方案，兼容性強

●     免費提供上位機軟件及SCPI指令集

應用場景及測試參數

1、納米材料：電阻率、載流子遷移率、載流子濃度、霍爾電壓

2、柔性材料：拉伸/扭轉/彎折、V-t、I-t、R-t、電阻率、靈敏度

3、IC芯片：O/S、IIH/IIL、VOH/VOL、I/O Pin IV曲線

4、分立器件：BVDSS/IGSS/IDSS/Vgs(th)/Rdson、Ciss/Coss/Crss、輸出/轉移/CV曲線等

5、光電探測器：暗電流ID、結電容Ct、反向擊穿電壓VBR、響應度R

6、鈣鈦礦電池：VOC、ISC、Pmax、Vmax、Imax、FF、η、Rs、Rsh

7、LD/LED/OLED：Iop、Popt、VF、Ith、VR、IR、LIV/IVL曲線

8、傳感器/憶阻器：V-t、I-t、R-t、直流/脈沖/交流IV測試

特色優勢

1、模塊化配置：可靈活配置多種測量單元，預留升級空間，方便后期升級

2、圖形化界面：內置常用器件模板，可直接調用，并且支持輸出三種模式測試報告

3、自動化測試：內嵌低漏電矩陣開關，可自動切換測試電路，實現一鍵測試功能

4、夾具可定制：支持二極管、三極管、Si及SiC MOS管、IGBT等器件

5、多設備聯動：可與探針臺、溫控模塊等搭配使用，溫控范圍：室溫~250℃

加快半導體材料、芯片器件設計以及先進工藝的開發驗證

1、支持直流、脈沖I-V測試

2、內置專業矩陣開關，提高測試效率

3、可與多種設備聯動使用：晶圓級芯片性能測試需要與探針臺聯動，可靠性評估會涉及常溫以及高低溫等條件

4、三同軸線纜提升小電流測試精度

圖形化軟件界面

配合普賽斯自主開發的專業測試軟件，SPA6100可輕松實現半導體材料，器件的參數測試。系統內置常用器件模板，如二極管， 三極管，MOSFET。測試過程中，可直接調用，只需簡單設置測試參數即可。軟件支持測試數據顯示，以及曲線繪制。測試完畢 后，可將數據以及曲線導出保存。

靈活可定制化的夾具方案

針對市面上不同封裝類型的半導體器件產品，普賽斯提供整套夾具解決方案。夾具具有低阻抗、安裝簡單、種類豐富等特點，可 用于二極管、三極管、場效應晶體管、IGBT、SiC MOS、GaN等單管，模組類產品的測試；也可與探針臺連接，實現晶圓級芯片 測試。

不同封裝類型的夾具

低壓直流I-V源測量單元

低壓脈沖I-V源測量單元

高壓I-V源測量單元

高流I-V源測量單元

電容測量單元

*以上規格如有更新，恕不另行通知。