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●   5寸觸摸顯示屏全圖形化操作

●   范圍廣，高至300V低至1pA

●   最小脈沖寬度200μS

●   準確度為0.1%

●   四象限工作（源和阱）

●   豐富的掃描模式

●   支持USB存儲，一鍵導出報告

●   多種通信接口，RS-232/GPIB/LAN

為什么選擇P系列高精度臺式脈沖源表？

• 性能-卓越的全量程測試/回讀0.1%精度和寬動態(tài)范圍規(guī)格（高至300V低至1pA）可以快速且高效的執(zhí)行半導體電氣特性精確表征。

• 生產(chǎn)率-P系列脈沖源表可工作在四象限區(qū)域，全系列機型提供DC和pulse兩種模式；SCPI命令提供通用性和兼容性。用戶能高效的操作測量，跟上不斷發(fā)展的半導體技術。

• 專業(yè)性-作為率先將數(shù)字源表SMU實現(xiàn)產(chǎn)業(yè)化的高新技術企業(yè)，研發(fā)和產(chǎn)品專家團隊一直傾聽用戶需求，不斷為客戶的測量挑戰(zhàn)提供創(chuàng)新且有效的解決方案。

集成源和表的能力，極致簡化IV量測任務

        使用傳統(tǒng)的儀器，如電壓/電流源、任意波形發(fā)生器(AWGs)、開關和電壓/電流表進行半導體電氣特性表征是復雜且成本昂貴的。需要多種儀器配合完成測試，對不同儀器進行編程、同步、連接、測量和分析，既復雜又耗時，還需占用大量測試臺空間。

        普賽斯P系列脈沖源表將許多不同的源和測量能力集成到一個緊湊的儀器機箱內(nèi)，可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表，還可用作精密電子負載、脈沖發(fā)生器和AWG來運行。普賽斯P系列SMU多功能、一體化的能力允許它執(zhí)行從直流到低頻交流的各種測量,而無需改變連接或使用額外的設備。

寬動態(tài)范圍，快速和準確獲得測量結果

        普賽斯P系列脈沖源表的最大電壓為±300 V，最大電流為±1 A DC，±10 A pulse，分辨率低至1pA。P系列脈沖源表可以存儲多達100000個數(shù)據(jù)點，支持在量測同時批量讀取緩存區(qū)數(shù)據(jù)，減少總線通信時間。當SMU集成到半導體測試系統(tǒng)中時，這些特性將幫助用戶極大的提高測試效率。

四象限工作，可以作為源或負載

        電源象限是指以電源輸出電壓為X軸、輸出電流為Y軸 形成的象限圖。第一、三象限即電壓電流同向,源表對其它設備供電,稱為源模式；第二、四象限即電壓電流反向，其它設備對源表放電，源表被動吸收流入的電流，且可為電流提供返回路徑，稱為阱模式。

內(nèi)置掃描和任意波形測量功能

        P系列高精度脈沖源表具有內(nèi)置掃描功能，支持線性和對數(shù)掃描、自定義掃描和序列掃描等。通過設定函數(shù)關系和保護參數(shù)后，系統(tǒng)自動運行，能夠有效執(zhí)行任意曲線的輸出，在表征響應隨電壓或者電流變化的測試中，能夠大幅提高測試效率，是I-V、I-R和V-R特性表征的理想選擇。

        P系列高精度脈沖源表具有任意波形生成(AWG)和列表掃描功能。AWG和列表掃描功能使您能夠創(chuàng)建最多100,000階梯的波形以獲得最大的靈活性。

多路電壓電流同步脈沖測量，減小器件自熱效應

        發(fā)熱管理在許多器件的測試過程中是至關重要的，特別是那些在半導體晶圓水平上的器件，如 VCSEL、激光二極管和 LED。脈沖 I-V測試將器件電流的發(fā)熱效應降至最低。P系列高精度脈沖源表可以最小化晶圓的發(fā)熱效應，更輕松的執(zhí)行真實器件的測試，確保用戶的精確測量。

輕松滿足常用的測量需求

        觸摸屏幕上的任意圖標，就會出現(xiàn)圖像化設置屏幕。在測量前按照向?qū)е鹨辉O置，操作更直觀。

提供的應用程序

- 序列掃描

- 數(shù)據(jù)記錄儀：持續(xù)輸出恒壓源測試模式；持續(xù)輸出恒流源測試模式

- APD管

- 晶體管：MOSFET 管測試；三極管測試

-- LIV：PIN 管掃描測試

- 波形發(fā)生器：設置正弦波、三角波、方波、鋸齒波四種波形；直流模式輸出和脈沖模式輸出；可以設置自定義序列

*以上規(guī)格如有更新，恕不另行通知。